Белорусский Государственный Университет  Информатики и Радиоэлектроники
БГУИР
BSUIR

2 учебная неделя

Кафедра проектирования информационно-компьютерных систем.

Публикации и патенты

Публикации за 2020 год
Публикации за 2019 год
Публикации за 2018 год
Публикации за 2017 год

::ПАТЕНТЫ ЗА 2013-2020 ГОДЫ

1. Способ изготовления интегральных микросхем по МОП-технологии: пат. 21442 Респ. Беларусь, МПК H 01L 21/335 / А.С. Турцевич; В.А. Солодуха; В.В. Глухманчук; Л.Г. Сятковски; С.А. Ефименко; заявитель ОАО «ИНТЕГРАЛ» - управляющая компания холдинга «ИНТЕГРАЛ». - N a 20140197; заявл. 26.03.2014; опубл. 30.10.2017 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2017. - N5. - С. 135.
2. Способ испытаний интегральных микросхем на коррозионную стойкость: пат. 20116 Респ. Беларусь, МПК G 01R 31/28 / А.С. Турцевич; В.А. Солодуха; Е.П. Самцов; А.С. Горегляд; С.А. Ефименко; заявитель ОАО «ИНТЕГРАЛ» - управляющая компания холдинга «ИНТЕГРАЛ». - N a 20130642; заявл. 18.05.2013; опубл. 30.06.2016 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2016. - N3. - С. 102.
3. Способ разбраковки микроконтроллеров со встроенной флеш-памятью после воздействия разряда статического электричества: пат. 21277 Респ. Беларусь, МПК G 01R 31/26, G 11C 29/52 / Г.А. Пискун, В.Ф. Алексеев; заявитель Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. - N а 20140093; заявл. 25.02.2014; опубл. 30.10.2015 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2015. - N 5. - С. 18.
4. Способ изготовления кремниевой интегральных микросхемы : пат. 18136 Респ. Беларусь, МПК H 01L 21/77, H 01L 21/04 / А.С. Турцевич; В.А. Солодуха; В.Е. Шикуло, С.А. Ефименко, О.Ю. Наливайко, И.В. Малый; заявитель ОАО «ИНТЕГРАЛ» - управляющая компания холдинга «ИНТЕГРАЛ». - N a 20111797; заявл. 22.12.2012; опубл. 30.04.2014 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2014. - N5. - С. 108-109.
5. Способ испытания микроконтроллеров на устойчивость к воздействию электростатических разрядов: пат. 17253 Респ. Беларусь, МПК G 01R 31/26, G 11C 29/52 / Г.А. Пискун, В.Ф. Алексеев, О.А. Брылева; заявитель Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. - N а 20120290; заявл. 28.02.2012; опубл. 30.06.2013 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2013. - N 3. - С. 142-143.
Скачать
6. Способ получения тонких пленок SnS: пат. 17820 Респ. Беларусь, МПК H01L 31/18, C23C 14/24, C30B 29/46 / С.А. Башкиров, В.Ф. Гременок; заявитель Государственное научно-производственное объединение «Научно-практический центр Национальной академии наук Беларуси по материаловедению». - N а 20120124; заявл. 27.01.2012; опубл. 30.08.2013 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2013. - N 5. - С. 152.
7. Тонкопленочный полупроводниковый фотодетектор: пат. 16917 Респ. Беларусь, МПК H01L 31/18 / В.Ф. Гременок, С.А. Башкиров; заявитель Государственное научно-производственное объединение «Научно-практический центр Национальной академии наук Беларуси по материаловедению». - N а 20120124; заявл. 28.04.2011; опубл. 28.02.2013 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2013. - N 1. - С. 131-132
8. Предупредительно-оповестительная информационная система для автотранспортных средств : пат. 9435 U Респ. Беларусь, МПК B 60Q 9/00, G 08G 1/09 / Павлович А.Э., Старжинский В.П., заявители: Павлович А.Э., Старжинский В.П., № u 20120985; заявл. 09.11.2012; опубл. 30.08 2013 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2013. - N 4. - С. 215-216.
9. Предупредительно-оповестительная информационная система для автотранспортных средств : пат. 10892 U Респ. Беларусь, МПК B 60Q 9/00, G 08G 1/09 / Старжинский В.П., Павлович А.Э., Гмырак В.Н., заявители: Старжинский В.П., Павлович А.Э., Гмырак В.Н., № u 20150088; заявл. 13.03.2015; опубл. 30.12 2015 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2015. - N 6. - С. 100-101.
10. Борцовский тренажёр: пат. 12112 U Респ. Беларусь, МПК А 63В 69/00, / Закерничный В.И., Павлович А.Э., заявители: Закерничный В.И., Павлович А.Э., № u 20190047; заявл. 21.02.2019; опубл. 30.10 2019 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2019. - N 5. - С. 84.
11. Способ тестирования сформированных на пластине кристаллов интегральной микросхемы: пат. 19597 C2 Респ. Беларусь, МПК G 01R 31/26 / Ефименко С.А., Турцевич А.С., Солодуха В.А., Матусевич И.И., Лабкович А.К., №а 20121751; заявл. 14.12.2012; опубл. 30.11.2015 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2015. - N 5. - С. 82-83.
12. Способ проведения испытаний на термополевую стабильность интегральных микросхем: Евразийский патент 027679, МПК H01L 21/66, G01R 31/303 / Васьков В.Б, Кондратенко Д.С., Осипов В.Е., Турцевич А.С., Солодуха В.А., Ефименко С.А., № 201500102; завл. 23.12.2014; опубл. 31.08.2017 // Бюллетень евразийского патентного ведомства.- 2017.- №8.- с.634-635.
13. Интегральная микросхема: пат 21568 C2 Респ. Беларусь, МПК H 01L 27/04 / Кондратенко Д.С., Турцевич А.С., Солодуха В.А., Дулинец Ю.Ч., Осипов В.Е., Ефименко С.А., № а20140179; заявл. 18.03.2014; опубл. 28.02.2018 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2018. - N 1. - С. 155-156.
14. Система для роста монокристаллов соединений группы AI In5S8, In2S3 и твердых растворов на их основе (AIIn5S8)1-x - In2S3: пат. 1251; Дата публикации 2021.02.28; Номер заявки: u 20200223; Дата подачи заявки:2020.09.11; Индекс(ы) МПК:C 30B 11/04 (2006.01); Заявитель(и):Учреждение образования "Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники" (BY); Автор(ы): Боднарь Иван Васильевич (BY); Фещенко Артем Александрович (BY); Хорошко Виталий Викторович (BY).

::СБОРНИКИ НАУЧНЫХ ТРУДОВ И КОНФЕРЕНЦИЙ
ЭЛЕКТРОННЫЕ СИСТЕМЫ И ТЕХНОЛОГИИ: сборник материалов 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР (г. Минск, 18-22 апреля 2022 г.)
НОВЫЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ В НАУЧНЫХ ИССЛЕДОВАНИЯХ: материалы XXVI Всероссийской научно-технической конференции НИТ-2021 студентов, молодых ученых и специалистов (г. Рязань)
ЭЛЕКТРОННЫЕ СИСТЕМЫ И ТЕХНОЛОГИИ: сборник материалов 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР (г. Минск, 19-23 апреля 2021 г.)